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介绍X射线无损测厚仪在领域中是如何应用
点击次数:997 更新时间:2018-07-17
  X射线无损测厚仪测试原理:是通过X射线激发各种物质的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加,厚度值也增加,但不是直线关系;通过标样和软件及算法得到一个接近实际对应关系的曲线.
 
  X射线无损测厚仪主要用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中, x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制中。
 
  X射线无损测厚仪特点:
 
  1.镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10秒~3分钟,分析精度高。
 
  2.可分析合金镀层厚度和成分比,这是其他测厚设备不能做到的。
 
  3.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过30微米。根据各种元素的能量不同,测量范围都不相同。
 
  4.可以对极小样品进行测试,例如:螺丝、电路板焊盘、接插件的插针等。可以将X射线照射在样品的光斑调到很小的地步。
 
  5.可测试超薄镀层,如:在测试镀金产品时,低可测试0.01米的镀层厚度,这是其他测厚设备无法达到的。
 
  X荧光通过射线的方式来检测镀层的厚度,因此,其对样品的表面物质测试为灵敏,因此,其非常适合测试超薄镀层,也是目前超薄镀层常用的测量方法。
 
  6.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。
 
  X射线具有一定的穿透能力,因此,在测试镀层时,它可以穿透多层镀层,通过每层镀层产生的特征X射线计算其厚度,并可分析其镀层的组成。
 
  7.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况并可以对样品的复杂面进行测量。
 
  由于X荧光的无损分析方法,同时仪器高度的自动化控制技术,保证测试中可以进行连续多点测量,不但提高测试效率,同时可以分析测试样的厚度分布情况。
 
  8.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别,即,每层样品元素有明显的差别。
 
  由于X荧光是通过特征X射线,对被测样品进行厚度分析的,因此每层镀层的材料应有明显的区别。
 
  9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同的镀层标样,虽然有FP法的测试软件,但在测试中,一定需要标准样品进行校对,因此,企业应用中采用标样校对的方法是常见的。
 
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