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x射线镀层测厚仪在检测时具有什么原理?
点击次数:3120 更新时间:2019-03-06
  x射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。使用x射线镀层测厚仪的主要测量方法有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
 
  x射线镀层测厚仪的工作原理:
 
  x射线镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加,厚度值也增加,但不是直线关系;通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个接近实际对应关系的曲线。
 
  x射线镀层测厚仪的特点:
 
  1、一次可同时分析24个元素。
 
  2、任意多个可选择的分析和识别模型。
 
  3、相互独立的基体效应校正模型。
 
  4、多变量非线性回收程序。
 
  5、专业贵金属检测、镀层厚度检测。
 
  6、针对不同样品可自动切换准直器。
 
  7、智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
 
  8、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。
 
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