X光镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。X射线是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。X射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

　　优势和特点：

　　X光镀层测厚仪拥有超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面，易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结。有助于识别镀层成分的创新型功能。机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室。按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的J确结果。使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书。用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心。分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享。有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用。

 

　　先进的技术：

　　*的 Peltier 电制冷进口检测器；

　　数字脉冲处理 (DPP) 技术；

　　基本参数 (FP) 无标样分析方法；

　　高性能、多元素分析。

 

　　功能强大、易于使用的元素分析软件：

　　无标和半无标分析；

　　基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法；

　　多层厚度及成分；

　　不限元素、不限数量的标样；

　　利用自动化操作实现多个激发条件。