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分享一些有关“X光镀层测厚仪”的使用特点
点击次数:952 更新时间:2020-07-23
  X光镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。X射线是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。X射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

  优势和特点:
  X光镀层测厚仪拥有超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面,易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结。有助于识别镀层成分的创新型功能。机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室。按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的J确结果。使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书。用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心。分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享。有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用。
 
  先进的技术:
  *的 Peltier 电制冷进口检测器;
  数字脉冲处理 (DPP) 技术;
  基本参数 (FP) 无标样分析方法;
  高性能、多元素分析。
 
  功能强大、易于使用的元素分析软件:
  无标和半无标分析;
  基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法;
  多层厚度及成分;
  不限元素、不限数量的标样;
  利用自动化操作实现多个激发条件。
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