x荧光镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

 

　　工作原理：

　　x荧光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

 

　　x荧光镀层测厚仪可应用于：

　　合金分析；镀层厚度分析；电镀液金属离子分析；磁性介质和半导体元素分析；土壤污染元素分析；过滤器上的薄膜元素分析；塑料中的有毒元素分析。

 

　　使用优势：

　　1、超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面；

　　2、易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果；

　　3、有助于识别镀层成分的创新型功能；

　　4、机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室；

　　5、按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的结果；

　　6、使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书；

　　7、用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心；

　　8、有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用。