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分享!x射线镀层测厚仪的使用规定
点击次数:498 更新时间:2023-03-13
  X射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。
 
  随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
 
  1、基体金属特性:
  对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
  对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
 
  2、基体金属厚度:
  检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
 
  3、边缘效应:
  不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
 
  4、曲率:
  不应在试件的弯曲表面上测量。
 
  5、读数次数:
  通常由于仪器的每次读数并不相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
 
  6、表面清洁度:
  测量前,应清洁表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
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