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X射线镀层测厚仪的三大详细介绍
点击次数:1413 更新时间:2013-12-04


一,X射线镀层测厚仪 是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  
系列分为以下三种:  

1. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。  
2. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。  
3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。


二,X射线镀层测厚仪,在技术上一直以来都于*的测厚行业
A :可测量任一测量点,zui小可达0.025 x 0.051毫米

B:  CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定zui多5层、15 种元素。
C: :度于世界,到0。025um  (相对与标准片)
D:MI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;
E::数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求 ;
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
F::统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。


三,X射线镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。

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