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X射线镀层测厚仪即放即测,方便耐用
点击次数:1044 更新时间:2015-12-05
X射线镀层测厚仪特点
即放即测!
通过自动定位功能,放置样品后仅需几秒,便能自动对准观察样品焦点。
 
10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量!
以*的设计实现微小区域下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。
 
无标样测量!
将薄膜FP软件进一步扩充,即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。
 
通过广域观察系统更方便选择测量位置!
通过广域观察系统,能够从画面上的样品整体图(zui大250×200mm)中方便地测量位置。
 
对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线镀层测厚仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。
 
为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的XX射线镀层测厚仪。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。
 
近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。X射线镀层测厚仪实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。
 
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