即放即测！

通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。

　

10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！

以*的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。

 

无标样测量！

将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。

 

通过广域观察系统更方便选择测量位置！

通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（zui大250×200mm）中方便地测量位置。

 

对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及品质，降低成本。精工从1971年推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线镀层测厚仪以来，已经累计销售6000多台，得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。

 

为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的XX射线镀层测厚仪。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。

 

近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。X射线镀层测厚仪实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。