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X光镀层测厚仪使用条件是什么
点击次数:1126 更新时间:2016-03-02
   X光镀层测厚仪是控制和保证产品质量*的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

  X光镀层测厚仪使用环境要求

  因为仪器采用磁感应测厚原理,因此严格避免强磁场干扰,避免沾染油污、重尘、潮湿等,不要重撞和摔坏仪器。

  X光镀层测厚仪更换电池

  为防止电池漏液,X光镀层测厚仪长期不使用时应取出电池。当仪器出现低电压提示时应更换电池,更换电池时请注意极性。请使用正规厂家生产的电池,可以避免因电池漏液而导致机器故障。

  用X光镀层测厚仪时,测量准确需具备什么条件?具体如下:

  1.基体金属特性

  对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

  对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。

  2.基体金属厚度

  检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用方法进行校准。

  3.表面清洁度。测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。

  4.边缘效应。不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。

  5.曲率。不应在试件的弯曲表面上测量。

  6.读数次数。通常由于X光镀层测厚仪的每次读数并不*相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。

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