X射线镀层测厚仪主要特点：
1.采用小功率端窗一体化微型光管，功耗小、激发效率高，结合使用大面积铍窗电致冷Si-PIN探测器，使该手持式仪器具有与台式机相近的地质矿样测试性能。
2.体积小、便携，方便野外工作。随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析。
3.采用高分辨率（640*480）PDA作主机，结合无线蓝牙通讯的微型多道分析器技术，仪器使用方便灵活，在任何环境中，测试数据都尽在掌中。
4.仪器既可手持进行快速测试，也能使用座立式对样品进行较长时间的精细测试。
5.考古检测X荧光光谱仪防水防尘，可在高温高湿环境下连续使用，其保护箱采用高强度军工用品设计，有良好的防潮防震防压三防功能。
6.专业软件，针对地质矿样元素检测的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、操作简易，对操作人员限制很小的特点。
7.矿样类别的快速识别，多元素自动定性定量分析以及多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
8.一块电池可使用4小时，三块原装电池装配，可选配太阳能充电器或车载式充电器，保证随时随地进行测试。

X射线镀层测厚仪工作原理

用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。下是这两类仪器的原理图。