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联系我们X-RAY镀层测厚仪性能优越
点击次数：1051 更新时间：2016-05-22
X-RAY镀层测厚仪特色：
非破坏，非接触式检测分析，快速。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。
全系列*设计样品与光径自动对準系统。
标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。
*2D与3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦，配合CCD摄取影像使用point and shot功能。
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。
光学2 0X 影像放大功能，更能对位。
X-RAY镀层测厚仪提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*。
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果。
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。
