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X-RAY镀层测厚仪性能*
点击次数:1090 更新时间:2016-05-22
 X-RAY镀层测厚仪特色:
非破坏,非接触式检测分析,快速。 
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 
相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。 
全系列*设计样品与光径自动对準系统。 
标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。 
準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。  
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。  
*2D与3D或任意位置表面量测分析。 
雷射对焦,配合CCD摄取影像使用point and shot功能。 
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。 
光学2 0X 影像放大功能,更能对位。 
 
X-RAY镀层测厚仪提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*。
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果。
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。
 
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