单、双及三层镀层系统；

双元及三元合金镀层的分析和厚度测量；

双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）；

能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量；

可编程的应用项图标，用于快速应用项选择；

完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估；

报告生成，数据输出；

语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文；

菜单中的某些选择项可授权使用；

注：基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。

可选择的Super WinFTM软件（订货号602-950）提供了以下的附加功能：

可随意创建测量应用；

可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度；

快速的频谱分析以决定合金成分；

 

X荧光镀层测厚仪物理意义：

X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：钠米，nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。这些核外电子围绕着原子核按不同轨道运转，它们按不同的能量分布在不同的电子壳层：分布在同一壳层的电子具有相同的能量。

当具有高能量的入射（一次）X射线与原子发生碰撞时，会打破原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层（如：K层）的电子更容易被激发而从原子中逐放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。仪器通过探测不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性，进行分析计算得到各镀层厚度，这一个过程就是我们所说的X射线荧光测厚。

应用

X荧光镀层测厚仪有着快速，准确，非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用