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X光镀层测厚仪配置及性能分析
点击次数:1004 更新时间:2016-06-15
X光镀层测厚仪提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:液晶显示器,彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能
 
X光镀层测厚仪机器配置
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.04-35um
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间:10-30秒
测量功能:单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层
精度控制:
*层:±5%以内
第二层:±8%以内
第三层:±12%以内
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联系人:樊先生
手机:
13761400826

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