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X射线镀层测厚仪特长说明
点击次数:1001 更新时间:2016-06-23
X射线镀层测厚仪通过新薄膜FP法提高测量精度
X射线镀层测厚仪实现微小光束的高灵敏度,通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外,针对检测器的特性开发了新的EP法,X射线镀层测厚仪可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书,简单方便。
新薄膜EP法    
    减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化;
    无标样测量方法可进行zui多5层的膜厚测量;
自动对焦功能和距离修正功能    
    凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量;
灵敏度提高
    镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2;
生成报告功能
    一键生成测量报告书;
 
广域样品观察
X射线镀层测厚仪对测量平台(250mm*200mm)上放置的样品拍摄一张静态画面后,可在获取的广域观察图像上狭域的观察位置。由此,可大幅减少多数测量点位置的选取时间,以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。
广域图像观察    轻松定位;
 
自动对焦功能 自动接近功能
X射线镀层测厚仪样品台上放置各种高度的样品时,只要高低差在80mm范围内,即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。
自动对焦功能    简便的摄像头对焦;
自动接近功能    位置的对焦。
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