技术文章
当前位置:首页 > 技术文章 > 型XRF-2000测厚仪系统分析
型XRF-2000测厚仪系统分析
点击次数:1028 更新时间:2016-07-08
XRF-2000测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。 
 
XRF-2000测厚仪可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分,测量厚度可以从埃(Å)至微米(μm),它也能测量多至20个元素的块状合金成分。其准确度、精密度和稳定性是*的。 
世界*光学准直器,光束zui少可达0.025mm;集中X-射线光束,强度加强5-8倍;适合较薄镀层测量,测量时间为正常的1/5;配有ZOOM功能,图象可放大至zui高200倍;更新FP方法,适合多层厚度测量。 
  ZXR/LXR系统:用于小样品的经济型。机械准直器,气体正比探测器。 
  GXR系统:斑点小,样品量大。GXR能测量小至25μm的Sn、Pd和AG层及小至35μm的Au和Ni层。应用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存等。 
  VXR系统:真空测量环境(真空导管技术),增加灵敏度和测定范围(Al-U)。VXR利用真空技术和的焦耳—汤母逊制冷半导体探测器(140eV,FWHM)。 
  MXR系统:高性能、高精密、高分辨。利用光学准直器透过元件发出*的40μm光束,将得到100—1000倍于相同大小光束的机械准直器X-射线荧光的精度。电制冷半导体探测器提供增强的灵敏度和分辨率(220eV,FWHM)。用于半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析。 
 
XRF-2000测厚仪的特征: 
  1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。 
  2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。 
  3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。 
点击这里给我发消息
联系人:樊先生
手机:
13761400826

化工仪器网

推荐收藏该企业网站