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X射线无损测厚仪在实际运用中具有什么优势?
点击次数:1322 更新时间:2019-11-25
   X射线无损测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器,其探测器分辨率低为139eV,处于先进水平;产品采用上照式设计,多重防辐射保护装置以及X射线发生器,使辐射剂量符合规定;样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的测厚分析软件,各项指标均符合相关技术要求,技术达先进水平。
 
  X射线无损测厚仪主要应用于金属镀层银的测试,同时可以测试镀金、镀镍、镀锡、镀锌、镀铜、镀铑、镀钯、二元合金镀层等,整个过程全部通过电脑来操作,实现“傻瓜”式操作模式,简单的培训既可以进行操作,整个仪器测试基本没有耗材,降低了后期的使用成本,为客户的产品质量保驾护航。
 
  X射线无损测厚仪的优点:
  该款仪器专为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、首饰手表、检测机构等行业量身打造的专业仪器。XYZ三个可调节方向、的样品观察系统和激光定位使得检测更方便。超大的测试内部空间,良好的散热效果和抗电磁干扰能力,模块化的结构设计使安装、调试、维护更方便,可适应恶劣工作环境。
 
  X射线无损测厚仪的应用行业:
  1、电子半导体行业接插件和触点的厚度测量。
  2、印刷线路板行业功能镀层厚度测量。
  3、贵金属首饰手表行业镀层厚度测量。
  4、五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量。
 
  X射线无损测厚仪的软件优势:
  采用的能量色散X荧光FpThick软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式,测试时元素观察更直观。
  具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
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