x射线镀层测厚仪又叫膜厚仪、膜厚测试仪、膜厚计或者镀层测厚仪（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度，以及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。x射线镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量*的检测仪器。

 

　　产品的九大特点：

　　1、操作界面简单，测量方便，快捷 无损检测，在无标准样品时亦可准确分析。

　　2、镀层测厚仪设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。

　　3、电控机盖升降 采用*双峰位快速自动校准。

　　4、外观高贵大方，加大仪器内部空间，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰。

　　5、客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。

　　6、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成。

　　7、电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效的延长X光管的寿命。

　　8、定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、神经网络算法等。

　　9、同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位手动准确移动平台，可辅助客户微移产品。

　　x射线镀层测厚仪的使用注意事项：

　　1、对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似;对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

　　2、检查基体金属厚度是否超过临界厚度。

　　3、不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　4、不应在试件的弯曲表面上测量。

　　5、通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

　　6、测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。