X射线金属镀层测厚仪是一种对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

 

　　应用领域：

　　黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量，电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

 

　　X射线金属镀层测厚仪的突出特点：

　　1、测头最小测量区域直径小至7毫米，适合螺钉，螺栓等小工件以及各种异型材料的薄镀层厚度测量；

　　2、探头采用数字震荡技术，高速ADC采集，确保仪器很好的稳定性，可测量超薄涂镀层；

　　3、具有数据统计功能，自动统计所测数据的最大、最小、平均和方差值；

　　4、采用先进的数字探头技术，不易受到干扰并且提供优良的测试精度。即使温度变化也不会影响测量，读数仍保持稳定，以确保在整个测量过程中非常良好的重复性；

　　5、支持调零和多点校准，可以依据标准片或实际工件可修正曲线，使测量数据更准确；

　　6、提供专用的手压测试机架供用户选购，可使测量更加方便，还可消除人为因素带来的测量误差。

 

　　试验步骤：

　　1、将X射线金属镀层测厚仪与试样放置在GB2918规定的23±2℃，45%-55%RH环境中放置4h后测量。

　　2、每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。

　　3、将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。

　　4、每次测量前仪器必须校零。

　　5、测量试样的电阻值。